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簡(jiǎn)要描述:1)產(chǎn)品體積小,重量輕,USB接口,適合攜帶2)64路數字集成電路測試,64路V-I曲線(xiàn)測試,1路v-i探棒測試3)同一器件可以在同一時(shí)間完成多種測試:功能測試,V-I曲線(xiàn)測試,溫度拐點(diǎn)系數測試,連接狀態(tài)測試,管管腳電壓測試4)測試庫達上萬(wàn)種元器件,可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測試庫,可以快速擴充測試庫5)短路追蹤可以快速找到短路點(diǎn)6)V-I曲線(xiàn)溫漂拐點(diǎn)系數測定,方便找出不穩定器件
英國ABI-6400電路板故障檢測儀產(chǎn)品突出特征:
1)產(chǎn)品體積小,重量輕,USB接口,適合攜帶
2)64路數字集成電路測試,64路V-I曲線(xiàn)測試,1路v-i探棒測試
3)同一器件可以在同一時(shí)間完成多種測試:功能測試,V-I曲線(xiàn)測試,溫度拐點(diǎn)系數測試,連接狀態(tài)測試,管管腳電壓測試
4)測試庫達上萬(wàn)種元器件,可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測試庫,可以快速擴充測試庫
5)整板測試非常簡(jiǎn)單,通過(guò)圖形化的測試庫編輯器,根據電路板原理,定義輸入激勵型號及輸出的標準響應信號,快速建立板測試庫,快速批量檢測電路板的功能。
6)短路追蹤可以快速找到短路點(diǎn)
7)V-I曲線(xiàn)溫漂拐點(diǎn)系數測定,方便找出不穩定器件
8)V-I曲線(xiàn)電壓掃描范圍:-10v~+10v 掃描電壓范圍可以2.5V步進(jìn)調整,可調整為非對稱(chēng)電壓掃描信號,掃描信號可達幾十種。
8)邏輯電平閾值自定義??梢栽O定非標準的邏輯電平閾值,檢查不穩定的元器件
9)邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統邏輯電平閾值零界值,設定循環(huán)測試來(lái)發(fā)現不穩定的錯誤結果.
10)配有離線(xiàn)測試盒,快速測試批量元器件。離線(xiàn)測試和在線(xiàn)測試功能*一至。
12)系統可以在64路的基礎上以64通道為單位進(jìn)行通道擴充,直至256通道
產(chǎn)品介紹及特點(diǎn):
1)數字測試通道:64路(可擴充到256通道).
2)模擬測試通道64路(可擴充到256通道).
3)隔離通道:4路.總線(xiàn)競爭信號隔離功能:用于解除總線(xiàn)競爭,確保正確測試掛在總線(xiàn)上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路總線(xiàn)競爭隔離信號。
4)快速掌握被測元件的多種信息,針對一個(gè)器件同時(shí)完成多種測試:數字ic功能測試,V-I曲線(xiàn)測試,曲線(xiàn)拐點(diǎn)溫度變化系數,各個(gè)管腳電壓值測量,管腳連接狀態(tài)測量顯示,
5)能夠對多種邏輯電平數字邏輯器件進(jìn)行在線(xiàn)/離線(xiàn)功能測試;上萬(wàn)種測試元件庫,元件種類(lèi):TTL,CMOS,Memory,Interface,LSI,CPU,PAL等.
6)邏輯電平閾值自定義。
7)邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,以確定板系統邏輯電平閾值,設定循環(huán)測試來(lái)發(fā)現不穩定的錯誤結果.
8)輸入輸出邏輯時(shí)序圖形顯示、具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體有用測試信息。
9)IC型號識別:針對標識不清或被擦除型號的器件,可“在線(xiàn)”或“離線(xiàn)”進(jìn)行型號識別測試。
10)讀寫(xiě)存儲器功能測試:可針對記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進(jìn)行讀取,對比及將資料存入電腦中,可進(jìn)行在線(xiàn)或離線(xiàn)測試.可采取在線(xiàn)(離線(xiàn))學(xué)習/比較的測試方法,先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái),保存到計算機上,再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測試;測試結果定位到存儲單元地址上,并打印出該地址正確和錯誤的代碼
11)V-I曲線(xiàn)模擬特征分析測試:V-I曲線(xiàn)測試通過(guò)比較好和壞電路板上相應器件管腳的特征曲線(xiàn)差異檢測故障.可把故障定位到電路結點(diǎn).V-I曲線(xiàn)試不涉及器件功能是逐管腳進(jìn)行的,不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測試,V-I曲線(xiàn)測試無(wú)需給電路板加電,測試安全。
12)5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過(guò)電壓及過(guò)電流保護功能.由系統自動(dòng)控制輸出,并可設定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類(lèi)型電路板的測試。
13)V-I曲線(xiàn)測試功能:可針對數位元件直接進(jìn)行測試,具有64組測量通道并可以擴充到256組通道,測試電壓可由2.5到5V步階式調整,其輸出電流由系統自動(dòng)調整設定.
14)圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個(gè)測試通道的邏輯時(shí)序可以由測試者圖形化自定義編輯,方便快捷的建立起測試庫中沒(méi)有的元件庫。
15)電路板整板測試,通過(guò)圖像化測試庫編輯器,測試者可以根據電路板的原理圖,將電路板的輸入輸出的時(shí)序進(jìn)行圖形化的測試庫編譯,自定義輸入通道的測試激勵信號,根據電路板的原理推算出輸出通道的響應時(shí)序信號,并將測試庫保存在測試庫中,以備日后做整板檢測使用。
16)短路電阻測量功能:三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小,并自動(dòng)探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線(xiàn)路的電阻值,及檢查短路點(diǎn)。
17)中英文測試軟件,體積小,usb口連接電腦
18)V-I曲線(xiàn)測試電壓-10v~+10v內可以調整,正負電壓可以不一至,例如:-2.5v~+10v zui大限度地保證測試的安全性。
19)該設備可以64路通道為標準進(jìn)行擴充,直至256路,保證了整板測試的zui大路數為256路。
20)V-I曲線(xiàn)測試,可以觀(guān)測曲線(xiàn)拐點(diǎn)溫度變化系數,易于發(fā)現一些器件的非固定性故障(或稱(chēng)為軟故障)。
21)數字集成電路測試中集電極開(kāi)路,自動(dòng)上加上拉電阻。
22)V-I曲線(xiàn)測試具有單通道探筆測試功能,方便分立器件的V-I曲線(xiàn)測試
23)LSI大規模集成電路在線(xiàn)功能及狀態(tài)分析測試:可采取學(xué)習、比較的方式對一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。
技術(shù)參數:
數字集成電路測試參數規格 | |
測試通道數: | 64通道(可擴展到256通道) |
總線(xiàn)隔離信號信道數: | 4通道or 8通道 |
實(shí)時(shí)比對功能: | 需有二個(gè)64通道, 或128通道 |
輸出驅動(dòng)電壓: | TTL/CMOS 標準 |
輸出驅動(dòng)電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區分 |
一般H-L 80mA @ 0.6V | |
一般 L-H 200mA @ 2V | |
Max.400mA | |
驅動(dòng)電壓轉換比: | >100V/μs |
電壓范圍: | +/-10V |
輸入阻抗: | 10k |
邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開(kāi)集極開(kāi)路 (內定或由程序設定) |
驅動(dòng)邏輯形態(tài): | Low, high, 三態(tài) (tri-state) |
過(guò)電壓保護范圍: | <0.5V, >5.5V |
zui長(cháng)測試時(shí)間: | 根據被測元器件而定 |
測試方式: | 在線(xiàn)及離線(xiàn)測試 (需外接離線(xiàn)測試盒) |
電源供給規格參數 | |
自動(dòng)供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
( 2 x 5V @ 5A 固定式 for 128信道) | |
過(guò)電壓保護: | 7V |
過(guò)電流保護: | 7A |
測試模式 | |
單次(Single): | 單次測試 |
循環(huán)(Loop): | 反復測試, 或條件式循環(huán)測試(PASS或FAIL) |
自動(dòng)掃描測試: | 可找到較為嚴格的邏輯電平閾值 |
邏輯電平閾值設定規格參數 | |
zui小調整解析: | 100mV |
低信號位準Low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
CMOS 0.1V to 1.5V | |
轉態(tài)位準Switching levels: | TTL 1.0V to 2.3V |
CMOS 1.0V to 3.0V | |
高信號位準High levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
CMOS 1.9V to 4.9V | |
掃描低邏輯范圍Swept low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
CMOS 0.1V to 1.5V | |
掃描邏輯轉態(tài)范圍Swept switching levels: | TTL 1.2V |
CMOS 2.5V | |
掃描高邏輯范圍Swept high levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
CMOS 1.9V to 4.9V |
測試功能及參數 | |
集成電路功能測試 | 根據測試庫的功能進(jìn)行測試,根據元件的原理和真值表進(jìn)行測試 |
元器件連接特性測試 | |
短路狀態(tài)偵測 Short circuit detection | |
懸?。ǜ〗樱顟B(tài)偵測 Floating input detection | |
開(kāi)路狀態(tài)偵測 Open circuit detection | |
連接狀態(tài)偵測 Linked pin detection | |
電壓量測Voltage: | zui小解析 10mV 范圍 +/-10V |
具邏輯狀態(tài)偵測 Logic state detection | |
VI曲線(xiàn)測試: | 測試通道數64 – 256(擴展) |
| 電壓設定范圍 -10V to +10V (可自行設定),可以設置非對稱(chēng)電壓掃描 |
| zui大測試電流 1mA |
曲線(xiàn)拐點(diǎn)系數: | 管腳的v-i曲線(xiàn)圖中的拐點(diǎn)圖形,隨溫度產(chǎn)生變化的系數,對于判定溫漂的故障元件非常有幫助 |
配件 | |
標準配件 | 離線(xiàn)測試測試盒 |
1 x 64 way test cable (64通道測試線(xiàn)) | |
1 x 64 way split test cable (2X32通道測試線(xiàn)) | |
1 x V-I probe assembly (V-I曲線(xiàn)測試探棒) | |
1 x BDO cable (隔離通道信號測試線(xiàn)) | |
1 x Short locator cable (短路電阻測試探棒) | |
1 x Ground clip (接地信號夾) | |
1 x PSU lead set (電源輸出線(xiàn)) |
通訊及機箱 | |
內置通訊接口 | PCI interface (通訊接口) |
外置通訊接口及機箱 | MultiLink case (標配) 為 USB.通訊端口 |
External case (選購) 可升級到 5個(gè)安裝槽的SYSTEM 8 外接箱 (USB.通訊端口). |
組件數據庫 | |
可測試元器件種類(lèi): | TTL 54/74 logic, CMOS, Memory, Interface, LSI, Microprocessor, PAL/EPLD, Linear, Package, Special a及使用者定義 |
可測試元器件封裝類(lèi)型: | DIL, SOIC, PLCC, QFP,用戶(hù)可以自己配置測試夾和轉接座 |