電路板故障檢測儀

強大的測試功能特點(diǎn)：

1）適合各種類(lèi)型的測試,模擬及數字集成電路及各種分立器件的測試
2）可進(jìn)行在線(xiàn)或離線(xiàn)測試與分析
3）具有24路測試通道，也可使用探棒進(jìn)行巡檢測試，針對各種類(lèi)型的封裝元件進(jìn)行測試。
4）安全性高的無(wú)電源測量方式，不用給電路板加電，系統自動(dòng)施加各種類(lèi)型的測試條件，zui大可能地保證測試安全。
5）多種測試類(lèi)型：1）簡(jiǎn)單類(lèi)型V-I曲線(xiàn)測試，針對固定某一管腳的不同管腳的測試，2）矩陣式V-I曲線(xiàn)測試模式, 可針對管腳間的阻抗曲線(xiàn)進(jìn)行測試。提供了豐富的測試信息，保證的測試的可靠性。
6）在進(jìn)行離線(xiàn)測試時(shí), 可針對蕊片內部進(jìn)行阻抗分析
7）自動(dòng)對比及儲存V-I曲線(xiàn),以備日后調取，方便了元件庫的建立
8）可切換VI,VT及IT三種顯示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件
9）可設定同步脈沖信號的寬度, 進(jìn)行可控規元器件或FET的功能測試
10）可進(jìn)行光耦合及繼電器元器件的速度功能測試
11）具有二組信號源, 可輸出直流信號, 針對光耦合器及繼電器進(jìn)行穩態(tài)測試.
12）顯示相似度百分比，具有業(yè)界中zui多的信號頻率調整檔位, 對于故障的查找有相當的幫助.
13）測試頻率高達到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件
14）系統具備自動(dòng)信號補償功能, 可針對測試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測試, 以防止量測信號失真.
15）可進(jìn)行維修日志的編寫(xiě)，將維修記錄*保存，以備日后查看。
16）可由軟件加入圖片, 用來(lái)清楚的表示被測元件的位置及電路板樣式.
17）可選擇利用USB或PCI通訊接口來(lái)進(jìn)行儀器的操作, 也可安裝在PC內來(lái)節省所占的空間.

測試參數：

全功能V-I測試模塊2400

全功能V-I測試儀

是一個(gè)經(jīng)由計算機控制來(lái)針對各類(lèi)元器件進(jìn)行V-I測試的模塊.
其大小與一個(gè)CD-ROM的大小相同, 所以它可以被安裝在個(gè)人計算機之中或是另外選配的外接盒之中.
而這是一個(gè)包含好壞電路板實(shí)時(shí)對比的全面性電路板故障檢測功能.
SYSTEM 8的全功能V-I測試模塊可*的由客戶(hù)來(lái)設定其測試的各種參數.
用戶(hù)可依照不同的組件性來(lái)設定信號波形參數.即便是波形的顏色或是背景的顏色,也可以依照用戶(hù)的需求來(lái)進(jìn)行來(lái)自行設定.

這是一個(gè)良好電容器的基本V-I圖形,可以利用實(shí)時(shí)對比通道來(lái)進(jìn)行波形比對,可依比對的相似度來(lái)判定是否為故障組件的圖形.

可利用實(shí)時(shí)雙信道對比模式來(lái)實(shí)時(shí)比對二點(diǎn)不同通道的波形差異度.可利用此方式來(lái)分辯好板壞板上各點(diǎn)量測波形的相似度,進(jìn)而找到故障的組件.而此方式適合剛入門(mén)的檢修工程人員來(lái)使用.

此模塊還提供了二個(gè)同步脈波輸出信號,可提供MOSFET或門(mén)流體的觸發(fā)信號.而其脈沖寬度, 信號極性及觸發(fā)角度皆可設置.

功能強大的矩陣掃描式VI曲線(xiàn)量測方式.它可分別依序將各管腳作為一信號的基準點(diǎn),再對其它的管腳作VI曲線(xiàn)量測.此功能會(huì )比一般的VI曲線(xiàn)量測更精準,更快速.

可同時(shí)顯示多組波形在同一個(gè)顯示窗內.此方式可同時(shí)檢視多個(gè)通道的比對結果.或是點(diǎn)選放大其中一個(gè)波形來(lái)進(jìn)行故障波形分析.
 

V-I 測試能力

量測通道:24 多任務(wù)信道+2實(shí)時(shí)對比通道+2同步脈沖信號信道
信號電壓范圍:2 V to 50 V peak to peak
電壓分辨率:8 to 12 bits
信號頻率范圍:37.5 Hz to 12 kHz
信號電流范圍:1 μA to 150 mA
信號阻抗范圍:100 Ohm to 1 M
測試信號波形:Sine, square, triangle, ramp, pulse
顯示圖形模式:V-I, V-T, I-T
量測波形自動(dòng)對比功能:可利用實(shí)時(shí)量測雙通道來(lái)自動(dòng)實(shí)時(shí)對比好壞組件的波形,或是將波形進(jìn)行存儲之后,再進(jìn)行比對工作.
同步脈沖輸出模式:正向（Positive）, 負向（negative）或雙向（bipolar）波形
同步信號振幅:可調式由+10 V~-10V
信號校正:自動(dòng)
附件（Accessories）

標準附件

1x24通道DIL測試夾
1x24通道測試線(xiàn)
2x接地線(xiàn)
2x同步脈沖測試線(xiàn)
1x藍色V-I測試探棒
1x黃色V-I測試探棒
1x雙信道貼片組件測試夾具
選購附件（Options）
適配卡:PCI interface
獨立的外接盒:可選配使用USB接口的獨立式外接盒.

VI曲線(xiàn)的定義

V-I曲線(xiàn)測試是一種針對模擬及數字電路*且可靠度高的測試方法.其測試方式是透過(guò)輸出電壓信號通過(guò)被測組件上所形成的電流信號,而定義出該被測節點(diǎn)的阻抗.

而經(jīng)由連續的電壓-電流信號的變化所產(chǎn)生的阻抗測試數據,將此一連續的測試數據繪制成一曲線(xiàn),此為被測組件的V-I曲線(xiàn). 通?？衫靡阎玫碾娐钒迳系腣-I曲線(xiàn),來(lái)比對待測的電路板或組件,可達到快速故障診斷的目的.而這項測試技術(shù)zui主要的優(yōu)勢是在于不需為電路板或組件加電,即可直接進(jìn)行比對測試.所以,即使是無(wú)法動(dòng)作的電路板也可以進(jìn)行故障檢測工作.