電路板故障檢測儀

英國ABI-6400與ABI-6500參數主要區別:

主要功能:

64通道數字集成電路在線(xiàn)、離線(xiàn)功能測試
64通道V-I曲線(xiàn)模擬通道測試（可測模擬器件）
強大的元器件和整板仿真測試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測試
短路追蹤測試（低電阻測試）
實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
存儲器功能測試
數字時(shí)序編輯功能
未知器件型號查詢(xún)
程控電源供電
 

測試準確-源自*的測試技術(shù)

同一器件同一時(shí)間完成多種測試:功能測試,V-I曲線(xiàn)測試,溫度拐點(diǎn)系數測試,連接狀態(tài)測試,管腳電壓測試等.
圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個(gè)測試通道的邏輯時(shí)序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成,方便快捷的建立起測試庫中沒(méi)有的元件庫.
整板測試非常簡(jiǎn)單,通過(guò)圖形化的測試庫編輯器,根據電路板原理,定義輸入激勵信號及測試輸出的標準響應信號,快速建立板測試庫,快速批量檢測電路板的功能.
邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統邏輯電平閾值零界值,設定循環(huán)測試來(lái)發(fā)現不穩定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設定非標準的邏輯電平閾值,檢查不穩定的元器件.
短路電阻測量功能:三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線(xiàn)路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時(shí)序圖形顯示,具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體測試信息.
V-I曲線(xiàn)測試功能:可針對元器件直接進(jìn)行測試,曲線(xiàn)電壓掃描范圍:-10v~+10v;測試電壓可由2.5到5V步階式調整,可調整為非對稱(chēng)電壓掃描信號,正負電壓可以不*,例如:-2.5v~+10v zui大限度地保證測試的安全性.其輸出電流由系統自動(dòng)調整設定.掃描信號可達幾十種.

產(chǎn)品特征:

中英文測試軟件,USB接口.
數字測試通道:64路（可擴充到256通道）.
模擬測試通道64路（可擴充到256通道）.
1路v-i探棒測試隔離通道:4路.總線(xiàn)競爭信號隔離功能:用于解除總線(xiàn)競爭,確保正確測試掛在總線(xiàn)上的三態(tài)器件（如74LS373,74LS245,等）,可提供4路總線(xiàn)競爭隔離信號,6500可提供8路隔離信號.
能夠對多種邏輯電平數字邏輯器件進(jìn)行在線(xiàn)/離線(xiàn)功能測試;測試庫達上萬(wàn)種元器件,可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測試庫,可以快速擴充測試庫配有離線(xiàn)測試盒,快速測試批量元器件.離線(xiàn)測試和在線(xiàn)測試功能**.
IC型號識別:標識不清或被擦除型號的器件,可"在線(xiàn)"或"離線(xiàn)"進(jìn)行型號識別測試.
讀寫(xiě)存儲器功能測試5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過(guò)電壓及過(guò)電流保護功能.由系統自動(dòng)控制輸出,并可設定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類(lèi)型電路板的測試。
數字集成電路測試中集電極開(kāi)路，自動(dòng)上加上拉電阻。
V-I曲線(xiàn)測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線(xiàn)測試LSI大規模集成電路在線(xiàn)功能及狀態(tài)分析測試：可采取學(xué)習、比較的方式對一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。

數字集成電路測試參數規格：

電源供給規格參數：