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產(chǎn)品型號：英國ABI-BM8400
更新時(shí)間：2024-06-20簡(jiǎn)要描述：特點(diǎn): 含模擬器件測試庫,可以直接對模擬器件進(jìn)行參數測試.測量通道數:24個(gè)獨立測試通道驅動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V驅動(dòng)輸出電流:200mA可測量輸入電壓:±24V輸入阻抗:大于1MΩIC測試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
產(chǎn)品綜述：
數字集成電路測試功能模塊（ABI-6400）
在BM-8400中提供了1個(gè)數字集成電路功能測試模塊,其具有64個(gè)量測通道,可提供多種的量測功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數字集成電路功能測試（在線(xiàn)/離線(xiàn)測試）,集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測,并連同在無(wú)電源供給的情形下使用的VI曲線(xiàn)的測試功能.
數字集成電路測試的高級測試模塊（ABI-6500）
該模塊是ABI-6400模塊的升級產(chǎn)品,是數字集成電路測試的高級測試模塊,系統提供信息更全面,更準確.測試條件更豐富,仿真測試輸入條件電壓電流可以根據需要-10V~+10V之間自己定義,檢測輸出的電平也可以自己定義.ATM模塊可以更好的檢測測試庫以外的元器件,實(shí)現電路板仿真測試更加方便快捷.
模擬集成電路測試功能模塊（ABI-2400/2500）
在模擬集成電路測試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路進(jìn)行功能測試.所有常見(jiàn)的模擬集成電路皆可以測試,系統會(huì )依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來(lái)作功能測試,不需要編輯程序或參考電路圖.在該模塊中還包括了完整的V-I曲線(xiàn)測試功能,電路板或集成電路可在無(wú)電源供給的情形下,得到清楚易懂的圖形化測試結果.
綜合型基礎儀表模塊（ABI-6300）
在A(yíng)BI-6300儀表模塊中,提供了多種高規格的測試及量測用的儀表功能在同一模塊之中.此種設計方式,適合用于教育及一般用途的電子量測使用.其模塊提供了頻率/事件計數器,數字存儲式示波器,信號產(chǎn)生器,雙信道的數字電表,固定式電源供應器及通用型的I/O接口.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺功能,來(lái)設計客制化的儀器操作接口.
數字可調式電源供應器模塊（ABI-1100）
此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測試時(shí)所必要的電源.其具有三組可調式電源輸出,并同時(shí)具有過(guò)電壓及過(guò)載保護功能.
主要功能
Digital IC Test 數字集成電路測試功能
具64個(gè)量測通道 （64通道X1組模塊）.八組輸出隔離信號.一組5V /5A的電源輸出.可進(jìn)行集成電路的功能測試、電壓測量、接腳連接測試、溫度指數及V-I曲線(xiàn)量測.內建邏輯時(shí)序信號測量功能、EPROM 數據比對功能、數字集成電路搜尋功能等.并可針對數字邏輯位準進(jìn)行調整,另外可自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對功能.
Analogue IC Test 模擬集成電路測試功能
具有24組測試通道及外加一組的分離集成電路測試信道.內建集成電路數據庫可測量模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路.可針對模擬集成電路進(jìn)行功能測、連接狀態(tài)測試及電壓測量.并具有自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀比對功能.
Digital V-I Test 數字式V-I曲線(xiàn)測試功能
具128量測通道（64通道X2個(gè)模塊）.可調整測量信號電壓范圍.針對數字集成電路可達到有效的測量結果.
Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線(xiàn)測試功能
具有24量測通道及外加二組獨立測量通道.其具有可調頻率、可調電壓、可調輸出阻抗及選擇測量波形功能.并可選擇波形顯示模式:V-I、V-T及I-T三種顯示模式.二組同步可變脈寬的信號輸出.內建測量線(xiàn)路補償功能.具有外接盒可供選配.
Matrix V-I 矩陣式V-I測試功能
具有24組矩陣式的測量通道.單一波形多重顯示的方式，并可直接進(jìn)行測量波形的比對功能,并以條狀圖的方式來(lái)顯示各通道信號的差異百分比.
Graphical Test Generator 數字時(shí)序編輯功能
具有64個(gè)信號通道可供編輯數字時(shí)序信號,每個(gè)通道可設定輸出、輸入及雙向狀態(tài).并可讀取數字向量信號、并且儲存之后再進(jìn)行比對.
Floating Digital Multimeter雙通道萬(wàn)用電表功能
具二組自動(dòng)換文件的測量通道,可測量DC及AC電壓信號達400V,可測量DC及AC電流信號可達2A.阻抗測量可達20M歐姆,各信道具有統計功能,可顯示zui大值、zui小值及平均值.另外提供一組計算器,可針對所測量到的數值進(jìn)行實(shí)時(shí)的計算并記錄.
Universal I/O 通用型輸出/輸入通道功能
具有四組模擬信號通道及四組數字信號通道.模擬信號通道可設定成為電壓輸出、電壓量測、電流輸出及電流測量四種工作模式.其電壓范圍為-9V to +9V,而電流范圍可達20mA.數字信號通道可設定為輸出邏輯HIGH、邏輯LOW或是偵測目前通道的信號邏輯狀態(tài),其輸出及輸入能力是以TTL位準為標準.
Short Locator 短路電阻測量功能
具有三段低電阻測量范圍,可以圖示及聲音來(lái)判斷目前短路的位置.
Auxiliary Power Supply 固定型電源輸出功能
具三組固定式的電源輸出,分別為:5V/0.5A輸出,+9V/ 100mA輸出及-9V/100mA輸出.各信道都具有電流值監測功能.
Variable Power Supply 可調型電源輸出功能
邏輯電源輸出的可調電壓范圍為2.5V到6V并具有過(guò)電壓跳脫功能.另外有可調式的正負電源輸出,其可電壓可調范圍為-24V到+24V.其輸出電流能力可達1A.
模塊介紹
英國ABI-6400/ABI-6500數字集成電路測試模塊（ABI-6400和ABI-6500任選其一）
英國ABI-6400數字集成電路測試模塊
英國ABI-6500數字集成電路測試模塊
主要功能:
64通道數字集成電路在線(xiàn)、離線(xiàn)功能測試
64通道V-I曲線(xiàn)模擬通道測試（可測模擬器件）
強大的元器件和整板仿真測試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測試
短路追蹤測試（低電阻測試）
實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
存儲器功能測試
數字時(shí)序編輯功能
未知器件型號查詢(xún)
程控電源供電
測試準確-源自*的測試技術(shù)
同一器件同一時(shí)間完成多種測試:功能測試,V-I曲線(xiàn)測試,溫度拐點(diǎn)系數測試,連接狀態(tài)測試,管腳電壓測試等.
圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個(gè)測試通道的邏輯時(shí)序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成,方便快捷的建立起測試庫中沒(méi)有的元件庫.
整板測試非常簡(jiǎn)單,通過(guò)圖形化的測試庫編輯器,根據電路板原理,定義輸入激勵信號及測試輸出的標準響應信號,快速建立板測試庫,快速批量檢測電路板的功能.
邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統邏輯電平閾值零界值,設定循環(huán)測試來(lái)發(fā)現不穩定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設定非標準的邏輯電平閾值,檢查不穩定的元器件.
短路電阻測量功能:三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線(xiàn)路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時(shí)序圖形顯示,具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體測試信息.
V-I曲線(xiàn)測試功能:可針對元器件直接進(jìn)行測試,曲線(xiàn)電壓掃描范圍:-10v~+10v;測試電壓可由2.5到5V步階式調整,可調整為非對稱(chēng)電壓掃描信號,正負電壓可以不*,例如:-2.5v~+10v zui大限度地保證測試的安全性.其輸出電流由系統自動(dòng)調整設定.掃描信號可達幾十種.
V-I曲線(xiàn)溫漂拐點(diǎn)系數測定,可以觀(guān)測曲線(xiàn)拐點(diǎn)溫度變化系數,易于發(fā)現一些器件的非固定性故障.方便找出不穩定器件.
系統可以在64路的基礎上以64通道為單位進(jìn)行通道擴充,直至256通道.6500可以擴充到2048路.
產(chǎn)品特征:
中英文測試軟件,USB接口.
數字測試通道:64路（可擴充到256通道）.
模擬測試通道64路（可擴充到256通道）.
1路v-i探棒測試隔離通道:4路.總線(xiàn)競爭信號隔離功能:用于解除總線(xiàn)競爭,確保正確測試掛在總線(xiàn)上的三態(tài)器件（如74LS373,74LS245,等）,可提供4路總線(xiàn)競爭隔離信號,6500可提供8路隔離信號.
能夠對多種邏輯電平數字邏輯器件進(jìn)行在線(xiàn)/離線(xiàn)功能測試;測試庫達上萬(wàn)種元器件,可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測試庫,可以快速擴充測試庫配有離線(xiàn)測試盒,快速測試批量元器件.離線(xiàn)測試和在線(xiàn)測試功能**.
IC型號識別:標識不清或被擦除型號的器件,可"在線(xiàn)"或"離線(xiàn)"進(jìn)行型號識別測試.
讀寫(xiě)存儲器功能測試5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過(guò)電壓及過(guò)電流保護功能.由系統自動(dòng)控制輸出,并可設定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類(lèi)型電路板的測試。
數字集成電路測試中集電極開(kāi)路，自動(dòng)上加上拉電阻。
V-I曲線(xiàn)測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線(xiàn)測試LSI大規模集成電路在線(xiàn)功能及狀態(tài)分析測試：可采取學(xué)習、比較的方式對一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。
數字集成電路測試參數規格：
| 數字集成電路測試參數規格 | |
| 測試通道數: | 64通道可擴展到256通道/6500可擴充2048通道 |
| 總線(xiàn)隔離信號通道數: | 4通道or 8通道 |
| 實(shí)時(shí)比對功能: | 需有二個(gè)64通道, 或128通道 |
| 輸出驅動(dòng)電壓 | TTL/CMOS 標準 |
| 輸出驅動(dòng)電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區分 |
| 一般H-L 80mA @ 0.6V | |
| 一般 L-H 200mA @ 2V | |
| Max. 400mA | |
| 驅動(dòng)電壓轉換比: | >100V/μs |
| 電壓范圍: | +/-10V |
| 輸入阻抗: | 10k |
| 邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開(kāi)集極開(kāi)路（內定或由程序設定） |
| 驅動(dòng)邏輯形態(tài): | Low,high,三態(tài)（tri-state） |
| 過(guò)電壓保護范圍: | <0.5V,>5.5V |
| zui長(cháng)測試時(shí)間: | 根據被測元器件而定 |
| 測試方式: | 在線(xiàn)及離線(xiàn)測試（需外接離線(xiàn)測試盒） |
| 測試功能及參數 | 參數主要區別 |
| 集成電路功能測試 | 根據元件原理和真值表進(jìn)行功能測試 |
| 元器件連接特性測試 | 短路狀態(tài)偵測 |
| 懸?。ǜ〗樱顟B(tài)偵測 | |
| 開(kāi)路狀態(tài)偵測 | |
| 連接狀態(tài)偵測:6500可以自定義儀器輸出通道的電壓范圍（-10~+10v）,模擬仿真測試范圍更加廣泛. | |
| 電壓測量 | zui小解析10mV范圍+/-10V |
| 具邏輯狀態(tài)偵測 | |
| VI曲線(xiàn)測試: | 測試通道數64 256（擴展） |
| 電壓設定范圍-10Vto+10V（可自行設定）,可以設置非對稱(chēng)電壓掃描 | |
| zui大測試電流 1mA | |
| 曲線(xiàn)拐點(diǎn)系數: | 管腳的v-i曲線(xiàn)圖中的拐點(diǎn)圖形,隨溫度產(chǎn)生變化的系數,對于判定溫漂的故障元件非常有助 |
電源供給規格參數：
| 自動(dòng)供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
| （2x5V@5A固定式for128信道） | |
| 過(guò)電壓保護: | 7V |
| 過(guò)電流保護: | 7A |
| 測試模式 | |
| 單次（Single）: | 單次測試 |
| 循環(huán)（Loop）: | 反復測試,或條件式循環(huán)測試（PASS或FAIL） |
| 自動(dòng)掃描測試: | 可找到較為嚴格的邏輯電平閾值 |
| 邏輯電平閾值設定規格參數 | |
| zui小調整解析: | 100mV |
| 低信號位準: | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 轉態(tài)位準: | TTL 1.0V to 2.3V/CMOS 1.0V to 3.0V |
| 高信號位準: | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
| 掃描低邏輯范圍: | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 掃描邏輯轉態(tài)范圍: | TTL 1.2V/CMOS 2.5V |
| 掃描高邏輯范圍: | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
英國ABI-6400與ABI-6500參數主要區別:
| 6400 | 6500 | |
| 測試范圍 | 5V數字IC | 多種電源數字IC |
| 后置驅動(dòng)能力 | 400mA （MAX） | 600mA （MAX） |
| 隔離信號通道 | 4組信號 | 8組信號（支持較大驅動(dòng)電流） |
| 測量電壓范圍 | +10V~ -10V | +20V~ -20V |
英國ABI-2400/ABI-2500模擬集成電路測試模塊
特點(diǎn):
含模擬器件測試庫,可以直接對模擬器件進(jìn)行參數測試.
測量通道數:24個(gè)獨立測試通道
驅動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V
驅動(dòng)輸出電流:200mA
可測量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測試方式:在線(xiàn)測試,若工作在OPA工作在線(xiàn)性區, 則可自動(dòng)計算出放大率（Av）
晶體管測試種類(lèi):晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測量工作,其內部提供了許多測量方式,可讓使用者用于許多類(lèi)型的分立元器件測試,包含功率型或高增益的分立元器件等.
特點(diǎn):
適合模擬及數字集成電路的測試.
可進(jìn)行在線(xiàn)或離線(xiàn)測試與分析.
具有24路測試通道.
安全性高的無(wú)電源測量方式.
矩陣式V-I曲線(xiàn)測試,可針對管腳間的阻抗曲線(xiàn)進(jìn)行測試.
在進(jìn)行離線(xiàn)測試時(shí),可針對芯片內部進(jìn)行阻抗分析.
自動(dòng)對比及儲存曲線(xiàn).
可切換VI,VT及IT三種顯示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可設定同步脈沖信號的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.
可進(jìn)行光電耦合器及繼電器元器件的速度功能測試.
具有二組信號源,可輸出直流信號,針對光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩態(tài)測試.
并且顯示相似度百分比,具有業(yè)界中zui多的信號頻率文件位,對于故障的查找有相當大的幫助.
測試頻率高達到12kHz,非常適合測試電感及高頻電容器件.
本系統具備自動(dòng)信號補償功能,可針對測試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測試,以防止量測信號失真.
可由軟件來(lái)進(jìn)行維修日志的編寫(xiě).
可由軟件加入圖片,用來(lái)清楚的表示量測位置及電路板樣式.
可選擇利用USB或PCI通訊接口來(lái)進(jìn)行儀器的操作,也可安裝在PC內來(lái)節省所占的空間.
測試參數：
| 測量通道: | 24測試通道 |
| 探筆通道: | 2通道實(shí)時(shí)對比測試 |
| 信號通道: | 2通道同步脈沖信號 |
| 測試電壓范圍: | 2 V to 50 V peak to peak:2/4/6/8/10/20/30/40/50V |
| 電壓分辨率: | 8 to 12 bits |
| 測試頻率范圍: | 37.5 Hz to 12 kHz:37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600 |
| 信號電流范圍: | 1 μA to 150 mA |
| 測試阻抗范圍: | 100Ω to 1MΩ：100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
| 測試信號波形: | 正弦波、三角波、斜波 |
| 顯示圖形模式: | V-I,V-T,I-T |
| 矩陣測試: | 各個(gè)管腳間的VI曲線(xiàn)測試 |
| 波形自動(dòng)對比: | 可利用實(shí)時(shí)量測雙通道來(lái)自動(dòng)實(shí)時(shí)對比好壞組件的波形,或將波形進(jìn)行存儲后,再進(jìn)行比對. |
| 同步脈沖輸出: | 正向（Positive）,負向（negative）或雙向（bipolar）波形 |
| 同步信號振幅: | 可調式由+10V～ -10V |
功能強大的2500
含模擬器件測試庫,可以直接對模擬器件進(jìn)行參數測試.
測量通道數:24個(gè)獨立測試通道
驅動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V
驅動(dòng)輸出電流:200mA
可測量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測試方式:在線(xiàn)測試,若工作在OPA工作在線(xiàn)性區, 則可自動(dòng)計算出放大率（Av）
晶體管測試種類(lèi):晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測量工作,其內部提供了許多測量方式,可讓使用者用于許多類(lèi)型的分立元器件測試,包含功率型或高增益的分立元器件等.
6300多功能儀表模塊
1.數字存儲示波器
| 數字儲存式示波器 | 水平軸規格 | |||
| 帶寬: | > 100MHz | 掃描頻率: | 5ns/div～5s/div | |
| 采樣率: | 50MS/s （5GS/s ERS 模式） | 存儲深度: | 各通道為64kbytes | |
| 通道數: | 2通道+外部觸發(fā)通道 | 觸發(fā)模式: | 一般,自動(dòng),單一 | |
| 耦合模式: | AC,DC,GND | 內部觸發(fā)規格: | ||
| 輸入阻抗: | 1M Ω,25pF | 觸發(fā)信號來(lái)源 | 通道一,通道二及信號發(fā)生器（MIS3） | |
| 電壓靈敏度: | 20mV to 2V /div | 觸發(fā)信號型式: | 上升沿觸發(fā),下降沿觸發(fā) | |
| 電壓分辨率: | 8 bits | 靈敏度: | <0.5分格 | |
| zui大輸入電壓: | 100VDC | 信號濾波模式: | AC,DC,高頻濾波,低頻濾波 | |
| 外部觸發(fā)規格 | 觸發(fā)延遲設定范圍: | |||
| 輸入阻抗: | 1MΩ, 25pF | 預觸發(fā): | 0～*掃描周期 | |
| 觸發(fā)信號型式: | 上升沿觸發(fā),下降沿觸發(fā) | 延時(shí)觸發(fā): | 0～*掃描周期 | |
| 靈敏度: | <10mV | 特殊功能: | 自動(dòng)測量輸入信號參數 | |
| 信號濾波模式: | AC,DC,高頻濾波,低頻濾波 | 自動(dòng)測量輸入信號參數 | ||
| zui大輸入電壓: | 100V DC | 信號波形比對功能 | ||
2.信號發(fā)生器
| 信號發(fā)生器: | |||
| 輸出波形種類(lèi): | 正弦波,方波,三角波,單次脈波. | ||
| 輸出頻率范圍: | 0.1Hz～10MHz, 調整分辨率:0.1% 滿(mǎn)刻度 | ||
| 信號周期范圍: | 100ns～10s | ||
| 調變模式: | 調幅,調頻,脈寬調變（AM,FM,PWM） | ||
| 調變信號頻率: | 400Hz 內部信號 | ||
| 直流偏壓可調范圍: | -7.5V～7.5V, 分辨率 50mV | ||
| 分辨率: | 1% | 掃描功能規格: | |
| 信號電壓幅度: | 0V～5V, 分辨率: 50mV | 可設定起始頻率范圍: | 0.1Hz～10MHz |
| 可變工作周期范圍: | 20%～80% | 可設定結束頻率范圍: | 0.1Hz～10MHz |
| 上升 / 下降時(shí)間: | 25ns | 可設定步階: | 1～1000 |
| 輸出阻抗: | 50Ω | 每步進(jìn)的保持時(shí)間設定范圍: | 0.1sto9.9s |
3.通用型接口通道
| 道數: | 4 組通道 |
| 模擬通道規格: | |
| 通道功能模式: | 電壓輸出,電壓輸入,電流輸出,電流輸入 |
| 電壓輸出范圍: | -9V～+9Vm 調整分辨率10mV |
| 電壓輸入范圍: | -10V～+10V,調整分辨率10mV |
| 電流輸出范圍: | 0～±20mA,調整分辨率μA |
| 數字通道規格: | |
| 通道功能模式: | 邏輯輸出高電平,邏輯輸出低電平 |
| 電壓電平類(lèi)型: | TTL 兼容的邏輯信號 |
4.數字隔離雙通道萬(wàn)用表
| 測量通道數: | 2 通道 | 通道二功能規格: | |||
| 輸入阻抗: | 10MΩ | 測量功能模式:交/直流電壓,交/直流電流,電阻測量. | |||
| 測量統計功能: | zui小/zui大值,平均值 | 電壓測量范圍: | 0～400V | 直流電流分辨率: | 1mA |
| 通道一功能規格: | 電流測量范圍: | 0～2A | 直流電流精度: | ±0.1% | |
| 測量功能模式: | 交/直流電壓 | 電阻測量范圍: | 0～20MΩ | 交流電流分辨率: | 1mA |
| 電壓測量范圍: | 0～400V | 直流電壓分辨率: | 0.01% | 交流電流精度: | ±0.2% |
| 直流電壓分辨率: | 0.005%滿(mǎn)刻度 | 直流電壓精度: | ±0.05% | 電阻測量分辨率: | 0.01% |
| 交流電壓分辨率: | 0.05% 滿(mǎn)量程 | 交流電壓分辨率: | 0.05% | 電阻測量精度: | ±0.1% |
| 交流電壓精度: | ±0.1% | 交流電壓精度: | ±0.1% | ||
5.頻率計/事件計數器
| 量測模式:事件計數,頻率計數,脈沖周期 | |
| 通道一規格: | |
| 通道阻抗: | 50Ω |
| 頻率量測范圍: | 1MHz～150MHz |
| 靈敏度: | <5mV rms @ 2MHz - 10MHz;<15mV rms @ 10MHz -100MHzw |
| 脈沖響應: | 50mV,25ns @ 500Hz |
| 輸入zui大電壓范圍: | ±5V |
| 基本精度: | ±0.02%±1count |
| 通道二規格: | |
| 通道阻抗: | 1MΩ |
| 頻率量測范圍: | 2Hz～100MHz |
| 靈敏度: | <300mV rms @ 10Hz;<150mVw rms @ 10kHz to 10MHz;<350mV rms @ 33MHz; |
| 輸入zui大電壓范圍: | 200Vrms |
| 基本精度:±0.02% | ±1count |
| 事件計數模式規格 | |
| 通道1計數范圍: | 0～9,999,999,999 |
| 外部信號閘寬zui小: | 20ns |
| 外部信號閘寬時(shí)間: | 6hours,10ms/10.74s,5μs/84ms,40nszui小分辨率 |
| 測量統計功能: | zui低值,zui高值,平均值 |
| 顯示模式: | 頻率,周期,轉速事件數,脈寬,閘寬時(shí)間 |
6.電源輸出
| 輸出電壓: | +5V,+9V,-9V |
| 輸出電流: | +5V /500mA |
| +9V /100mA |
1100可調電源模塊
電源輸出可由軟件控制
可調式邏輯電壓通道
可調整2.5V至6V的電壓
zui小電壓（流）調整解析:0.01V & 0.01A
可調式正電壓通道
可調整電壓:0～+24V 電流范圍:50mA～1.5A
zui小電壓（流）調整解析度:0.01V & 0.01A
可調式負電壓通道
可調整電壓:0～-24V 電流范圍:50mA～1.5A
zui小電壓（流）調整解析度:0.01V & 0.01A
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