銷(xiāo)售美國.J.A.Woollam的M-2000 光譜型橢偏儀

無(wú)論是科研還是工業(yè)生產(chǎn)，M-2000都可以滿(mǎn)足您的需求，多樣的配置選項滿(mǎn)足不同用戶(hù)的要求。旋轉補償*技術(shù)保證Delta的準確測量，CCD列陣的使用使全光譜掃描可在幾秒中內完成。

可選光譜范圍：

V型 370－1000nm
U型 245－1000nm
D型 193－1000nm
紅外擴展 1000－1700nm

可選變角：

手動(dòng)連續可變

自動(dòng)連續可變

特殊微光斑選件：

25×60微米
 

M-2000 光譜型橢偏儀
無(wú)論是科研還是工業(yè)生產(chǎn)，M-2000都可以滿(mǎn)足您的需求，多樣的配置選項滿(mǎn)足不同用戶(hù)的要求。旋轉補償*技術(shù)保證Delta的準確測量，CCD列陣的使用使全光譜掃描可在幾秒中內完成。
Alpha-SE 光譜型橢偏儀
α-SE是一款高性?xún)r(jià)比的光譜型橢偏儀。簡(jiǎn)約設計，理想的薄膜分析工具。計算機通過(guò)USB口控制儀器、數據采集。配置易用的數據分析軟件 易于使用 帶有高級選項的按鈕式操作 軟件技術(shù)* 基于旋轉補償*技術(shù) 高速測量 十秒內完成180個(gè)波長(cháng)的測量及數據的擬合 功能強 提供厚度、光學(xué)常數、表面粗糙、界面層等 各種數據 應用范圍 適用于各類(lèi)可見(jiàn)光譜段薄膜的研究及日常工藝控制
V-VASE 光譜型橢偏儀
V-VASE是一款經(jīng)典的自動(dòng)可變角，單色儀分光的光譜橢偏儀?？蓱糜诎雽w、電介質(zhì)、聚合物、金屬、等各類(lèi)薄膜的研究和分析。自動(dòng)相位延遲技術(shù)保證了測量準確性，*的工藝保證了測試重復性。具有靈活多變測試功能的V-VASE可用于各類(lèi)研究中。
IR-VASE 光譜型橢偏儀
IR-VASE可應用于紅外材料光學(xué)特性的測量及分析，IR-VASE在半導體上可應用于摻雜濃度的測量。超寬光譜適合各種紅外材料，旋轉補償技術(shù)保證測試數據的準確性。IR-VASE是紅外橢偏儀中的*產(chǎn)品。
VUV-VASE 光譜型橢偏儀
UVV-VASE是一款真空紫外橢偏儀，通常用來(lái)測量及研究薄膜的紫外光學(xué)特性，如光刻膠等。
T-solar 光譜型橢偏儀
T-Solar是為光伏行業(yè)量身定制的一款光譜橢偏儀，無(wú)論是硅電池（絨面）還是薄膜電池，都可以用T-Solar來(lái)測量。T-Solar基于M-2000，是M-2000的一個(gè)特殊配置版。